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金屬顆粒的識(shí)別是清潔度分析的重要要求。近年來，金屬顆粒的光學(xué)檢測(cè)通常是通過光澤度進(jìn)行的。根據(jù)實(shí)驗(yàn)室經(jīng)驗(yàn)，我們發(fā)現(xiàn)光學(xué)顯微鏡分析通常會(huì)導(dǎo)致錯(cuò)誤的分類，這可以通過使用掃描電鏡光反射的檢測(cè)方法進(jìn)行材料分析，輕松避免金屬顆粒的誤識(shí)別。

金屬顆粒的光學(xué)顯微鏡檢測(cè)是基于光反射進(jìn)行的，要求濾膜上的金屬顆粒要反光發(fā)亮，包含亮點(diǎn)的顆粒被分類為金屬雜質(zhì)。在所有其他情況下，該顆粒被視為非金屬雜質(zhì)。

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